??日前，德州仪器(TI)颁发面向超低功耗MSP430微节造器(MCU)推出通用串行总线(USB)JTAG调试接口(MSP-FET430UIF)以及USB Development快闪仿真工具(FET)(MSP-FET430Uxx)，从而进一步提高了代码开发、评估与编程的矫捷性。Development FET使用户可能直接衔接到USB端口，而不用再与并行端口相衔接（某些新型幼我推算机(PC)不具备并行端口），同时通过PC USB端口，调试接口可与现有并行端口MSP430 FET共同使用以进行编程与调试。

??开发人员可使用与MSP430指标插板衔接的调试接口或已蕴含了指标插板的Development FET作为齐全工具进行开发、评估与编程。两套工具均选取尺度14引脚JTAG衔接器与MSP430 器件进行通讯。

??由于MSP430超低功耗MCU的日益遍及以及USB 开发板的易用性与矫捷性。JTAG 调试接口与Development FET使开发人员只需轻敲几个按键即可在几秒的功夫内擦除闪存并对其进行编程，并且，由于 MSP430快闪的功耗极低，因而无需任何表部电源。

??通过将MSP430快闪器件直接衔接至PC的USB端口，USB JTAG调试接口极大简化了设置以便于开发人员使用。该接口蕴含 KickStart 集成开发环境（IDE），其可提供汇编法式、链接法式、仿真法式、源代码级调试法式和有限的C编译法式。其它个性还蕴含软件可配置电压（当电流为100mA时，电压介于1.8与3.6伏之间），以及可提供额表
；さ腏TAG保险丝，并可与现有FET及JTAG 插板进行向后兼容。此表，JTAG接口还建设了USB线缆与14导体指标线缆，以及光盘版的齐全文档。该款新型USB FET可能与运行于Win2000与WinXP 环境下的USB 1.0与USB 2.0兼容。

??新型USB Development FET不仅蕴含USB调试接口的所有职能，并且还可提供MSP430指标插板。凭据 MSP430 MCU 在此块板面上的封装引脚数，USB Development FET可提供以下部件：

??齐全的MSP430 FET解决规划

??随着新型MSP430 FET 的推出，客户占有了一套齐全的开发工具，为此刻及未来的并行或USB PC端口设计提供支持。这两套工具均可支持所有MSP430快闪器件的开发。

??USB PC端口FET解决规划

现有并行FET解决规划的USB PC端口用户

并行PC端口FET解决规划

??亲自履历最新型USB工具

??第三届MSP430高级技术会议（ATC）即将在达拉斯（11月9-11日）、北京（11月16-18日）以及弗赖贝格（12月7-9日）拉开帷幕，届时客户将亲眼目见 USB JTAG 接口与 FET 的职能。TI 专家将为与会者具体介绍MSP430架构、表设、编码/设计技术与利用，以及最新的MSP430器件与工具。与会者能够选择各类深刻的专题会商会与钻研会来定造自身的培训，并可与MSP430专家、第三方及全球MSP430用户进行知识的互换。

荆门永利yl23455单片机技术有限公司市场部

2004年10月27日